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半导体八大工gōng 艺流程图

2025-02-07 03:59:49Gyms

都说半导体制造工艺复杂,但具体的芯片生产流程是怎样的?半导体从业者对芯片都有一定程度的了解,但我相信除了在晶圆厂的人外,很少有人对工艺流程有深入的了解。在这里我来给大家做一个科普。首先要做一些基本常识科普:半导体元件制造过程可分为前段制程(包括晶圆处理制程、晶圆针测制程);还有后段(包括封装、测试制程)

都说半导体制造工艺复杂,但具体的芯片生产流程是怎样的?

半导体从业者对芯片都有一定程度的了解,但我相信除了在晶圆厂的人外,很少有人对工艺流程有深入的了解。在这里我来给大家做一个科普。首先要做一些基本常识科普:半导体元件制造过程可分为前段制程(包括晶圆处理制程、晶圆针测制程);还有后段(包括封装、测试制程)。

零、概念理解 所谓晶圆处理制程,主要工作为在硅晶圆上制作电路与电子元件(如电晶体、电容体、逻辑闸等),为上述各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程 ,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数百道,而其所需加工机[拼音:jī]台先进且昂贵,动辄数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿度与 含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-Room),虽然详细的处理程序是随著产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经【繁:經】过适 当的清洗(Cleaning)之後,接著进行氧化(Oxidation)及沈积,最後进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作。

晶圆针测制程则是在制造好晶圆之后,晶圆上即形成一格{练:gé}格的小格 ,我们称之为晶方或是晶粒(Die),在一般情形(xíng)下,同一片晶圆上皆制作相同的晶片,但是也有可能在同一片晶圆 上制作不同规格的产品;这些晶圆必须通过晶片允收测试,晶粒将会一一经过针测(Probe)仪器以测试其电气特性, 而不合格的的晶粒将会被标上记号(Ink Dot),此程序即 称之为晶(读:jīng)圆针测制程(Wafer Probe)。然後晶圆将依晶粒 为单位分割成一粒粒独立的晶粒。

IC封装制程(Packaging):利用塑膠或陶瓷包裝晶粒与配线《繁体:線》以成集成chéng 电路;目的是《练:shì》为了制造出所生产的电路的保护层,避免电路受到机械性刮伤或是高温破坏。而后段的测试则是对封装好的芯片进行测试,以保证其良率。

因为芯片是高精世界杯度的产品,因此对制造环《繁:環》境有很高的要求。

下面对主《pinyin:zhǔ》要的制程进逐一讲解:

一、硅(拼音:guī)晶圆材料

晶圆(yuán)是制作硅半导体IC所用之硅晶片,状似圆形,故称晶圆。材料是「硅」, IC(Integrated Circuit)厂用的硅晶片即为硅晶体,因为整片的硅晶片是{练:shì}单一完整的晶体,故又称为单晶体。但在整体固态晶体内,众多小晶体的方向不相,则为复晶体(或多晶体)。生成单晶体或多晶体与晶体生长时的温度,速率与杂质都有关系。

二èr 、光学显影

光学显影是在感光胶上经过曝光和显影的程序,把光罩上的图形转换到感光《读:guāng》胶下面的薄膜层或硅晶上。光学[繁:學]显影主要包含了感光胶涂布、烘烤、光罩对准、 曝光和显影等程序。

关键[拼音:jiàn]技术参数:最小可分辨图形尺寸Lmin#28nm#29 、聚焦深度DOF

曝光方式:紫外线、X射线、电子束、极紫外光

三、蚀(繁:蝕)刻技术

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蚀刻技术(繁:術)(Etching Technology)是将材料使《pinyin:shǐ》用化学反应物理撞击作用而移除的技术。可(练:kě)以分为:

湿蚀{练:shí}刻(wet etching):湿蚀刻所使用的是化《练:huà》学溶液,在经过化学反应之后达到蚀刻的de 目的。

干蚀刻(读:kè)(dry etching):干蚀刻则是利用一种电浆蚀刻(plasma etching)。电浆蚀刻中蚀刻的作用,可能是电浆中离子撞击(繁:擊)晶片表面所(练:suǒ)产生的物理作用,或者是电浆中活性自由基(Radical)与晶片表面原子间的化学反应,甚至也可能是以上两者的复合作用。

现在主要应世界杯用《练:yòng》技术:等离子体刻蚀 

四、CVD化学气相沉[练:chén]积

这是利《读:lì》用热能、电浆放电或紫外光照射等化学反《练:fǎn》应的方式,在反应器内将反应物(通常为wèi 气体)生成固态的生成物,并在晶片表面沉积形成稳定固态薄膜(film)的一种沉积技术。CVD技术是半导体IC制程中运用极为广泛的薄膜形成方法,如介电材料(dielectrics)、导体或半导体等薄膜材料几乎都能用CVD技术完成。

常用的CVD技{读:jì}术有:

#281#29「常压化学气相(练:xiāng)沉积(APCVD)」;#282#29「低压化学气相(练:xiāng)沉积(LPCVD)」;#283#29「电浆辅助化学气相沉积(PECVD)」

较为常见的CVD薄膜包括有:■ 二气化硅(通[读:tōng]常直接称为氧化《拼音:huà》层) ■ 氮化硅 ■ 多晶硅 ■ 耐火金属与这类金属之其硅化物

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CVD的反应机制主要可分为(拼音:wèi)五个步骤:

#281#29在沉积室中导澳门金沙入气体,并混以稀释用的惰性气体构成「主气流(mainstream)」;#282#29主气流中反应气体原子或分子通过边界层到达基板表面;#283#29反应气《繁体:氣》体原子被「吸附(adsorbed)」在基板上;#284#29吸附原子(adatoms)在基板表面移动,并且产生化学反应;#285#29气态生成物被「吸解(desorbed)」,往外扩散通过边界层进入主气流中,并由沉积室中被去除。

五、物理气相沉积{繁体:積}(PVD)

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这主要《练:yào》是一种物理制程而非化学制程。此技术一般使用氩等钝气,藉由在高真空中将氩离子加速以撞击溅镀靶材后,可将靶材原子一个个溅击出来,并使被溅击出来的材质(通常为铝、钛或其合金)如[pinyin:rú]雪片般沉积在晶圆表面。 

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PVD以真空、测射、离子化或离子束等方法使纯金属挥发,与碳化氢、氮气等气[繁:氣]体作用,加热至400~600℃(约1~3小时)后,蒸镀碳化物、氮化物、氧化物及硼化物等1~10μm厚之微细粒状薄膜,PVD可分为三[pinyin:sān]种技术:#281#29蒸镀(Evaporation);#282#29分子束磊晶成长(Molecular Beam Epitaxy;MBE);#283#29溅镀(Sputter)

解离金属电浆是最近发展出来的物理气相沉积技术,它是在目标区与晶圆之间,利用电浆,针对从目标区溅击出来的金属原子,在其到达晶圆之前,加以离子化。离子化这些金属原子的目的是,让这些原子带有电价,进而使其行进方向受到控制,让这些原子得以垂直的方向往晶圆行进,就像电浆蚀刻及化学气相沉积制程。这样做可以让这些金属原子针对极窄、极深的结构进行沟填,以形成极均匀yún 的表(繁:錶)层,尤其是在最底层的部份。

六、离子《zi》植入(Ion Implant)

离子植入技术可将掺质以离子型态植入半导体组件的特定区域上,以获得精确的电子特性。这些离子必须先被加速至具有足够能量与速度,以穿透(植入)薄膜,到达预定的植入深度。离子植入制程可对植入区内的掺质浓度加以【yǐ】精密控制。基本上,此掺质浓度(剂量)系由离子束电流(离子束内之总离子{读:zi}数)与扫瞄率(晶圆通过离子束之次数)来控制,而离子植入之深度则由离子束能量之大小来决定。

七、化学机(繁体:機)械研磨技术

化学机械xiè 研磨技[读:jì]术(化学机器磨光, CMP)兼具有研磨性物质的机械式研磨与酸碱溶液的化学式研磨两种作用,可以使晶圆表面达到全面性的平坦化,以利后续薄膜沉《读:chén》积之进行。

在CMP制程的硬设备中,研磨头被用【读:yòng】来将晶圆压在研磨垫上并带动晶圆旋转,至于研磨垫则以相反的方向旋转。在进行研磨时,由研磨颗粒所构[繁体:構]成的研浆会被置于晶圆与研磨垫间。影响CMP制程的变量包括有:研磨头所施的压力与晶圆的平坦度、晶圆与研磨垫(繁体:墊)的旋转速度、研浆与研磨颗粒的化学成份、温度、以及研磨垫的材质与磨损性等等。

八、光罩检测(Retical检查) 光罩是高精密度的石英平板,是用来制作晶圆上电子电路图像,以利集成电路的制作《练:zuò》。光罩必须是完美无缺,才能呈现完整的电路图像,否则不[pinyin:bù]完整的图像会被复制到晶圆上。光罩检测机台则是结合影像扫《繁体:掃》描技术与先进的影像处理技术,捕捉图像上的缺失。

当晶圆从一个制程往下个制程进行时,图案[读:àn]晶圆检测系统可用来检测出晶圆上是否有瑕疵包括有微尘粒子、断线、短路、以及其它tā 各式各样的问题。此外,对已印有电路图案的图案晶圆成品而言,则需要进行深次微米范围之瑕疵检测。

一般来说,图案晶圆检测系统(繁:統)系以白光或雷射光来照射晶圆表面。再由一或多组侦测器接收自晶圆表面绕(繁:繞)射出来的光线,并将该影像交由高功能软{练:ruǎn}件进行底层图案消除,以辨识并发现瑕疵。

九、清洗技术 我们要知道,清洗技术在芯片制造中非常重要。清洗的目的是去除金属杂质、有机物污染、微尘与自然氧化物;降低表面粗糙度;因yīn 此几乎所有制程之幸运飞艇前或后都需要清洗。份量约占所有制程步骤的 30%

十、晶片切【pinyin:qiè】割(Die Saw)

晶片切割之目的为将前《读:qián》制程加工完成之晶圆上一颗颗之晶粒(die)切割分离。举例来说:以0.2微米制程技术生产,每片八寸晶圆上可制作近六百颗以上的[读:de]64M微量。欲进行晶【读:jīng】片切割,首先必须进行 晶圆黏片,而后再送至晶片切割机上进行切割。切割完后之晶粒井然有序排列于胶带上,而框架的支撑避免了胶带的皱摺与晶粒之相互碰撞。

十一:焊线(Wire Bond) IC构装制程(Packaging)则是利用塑胶或{读:huò}陶瓷包装晶粒与配线以【yǐ】成集成电路(Integrated Circuit;简称IC),此制程的目的是为了製造出所(练:suǒ)生产的电路的保护层,避免电路受到机械性刮伤或是高温破坏。最后整个集成电路的周围会 向外拉出脚架(Pin),称之为打线,作为与外界电路板连接之用。

十二、封[读:fēng]膠(Mold)

封胶之主要目的为防止湿(shī)气由外部侵入、以机械方式支 持{练:chí}导线、内部产生热量之去除及提供能够手持之形体。其过程为将导线{繁体:線}架置于框架上并预热,再将框架置于压模机上的构装模上,再以树脂充填并待硬化。

十三、剪切/成形{练:xíng}(Trim /Form)

剪切之目的为将导线架上构装澳门博彩完成之晶粒独立分开,并 把不需要的连接用材料及部份凸出之树脂切除(dejunk)。成形之目的则是将外引脚压成各种预先设计好之形状 ,以便(拼音:biàn)于装置于电路版上使用。剪切与成形主要由一部冲压机配上多套不同制程之模具,加上进料及出料机构 所组成。

十四:典型的测试和检(繁体:檢)验过程

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这些测试和检验就是保证封装好芯片的{练:de}质量,保证其(练:qí)良率的。其检测项目包括但不{练:bù}限于以下几项:

总结 以上的整理并不保证完全quán 正确或者完整,笔者整理{练:lǐ}这些是为了方便大家对半导体芯片的制程有一些简要的了解,如果有错误,希望大家斧正。当然,也希望这些内容对大家有[pinyin:yǒu]所帮助。

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